软X射线磁散射技术的发展与应用

报告题目:X射线磁散射技术的发展与应用

报告人:张石磊 (研究员)  上海科技大学物质科学与技术学院

报告时间:2021727日下午,14:00-15:30

报告地点:致远楼301会议室

报告人简介:张石磊,上海科技大学研究员、PI博士生导师。2019年加入上海科技大学。2017年毕业于牛津大学物理系,获得博士学位,并在牛津大学物理系从事博士后研究。主要从事同步辐射光源技术及其在磁性材料中的应用研究。在X 射线散射技术开发、拓扑磁性材料领域取得了系列创新性研究成果。

报告摘要:同步辐射及光子科学对于量子材料的研究有着深远的影响。软X射线共振弹性散射(REXS)技术是基于同步辐射的用于表征量子材料微观结构的散射方法学。我的报告将系统的介绍这一手段的原理和实验方法,并讨论其在表征常规的铁磁、反铁磁等简单磁有序材料中的应用。在此基础之上,我将介绍近年来我们对于REXS技术的推进和发展。将更多的自由度引入散射过程,将得到对REXS的全新理解。我们将这些新的方法学应用在了具有复杂磁结构的材料中,成功的表征出了磁性体系的手性参数[1]、拓扑参数[2]、三维构型[3]以及皮秒级别的动力学属性[4]

[1] Phys. Rev. Lett.120, 227202 (2018).  

[2] Nat. Commun. 8, 14619 (2017).

[3] Phys. Rev. Lett.126, 017204 (2021). 

[4] Phys. Rev. Lett.125, 137201 (2020).  


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